硬盘测试报告(1)
硬盘测试报告
编号20120925样品描述希捷（ST9500325AS）测试工程师张飞飞
测试开始时间2012.9.18测试结束时间2012.9.28
测试环境：
WindowＸＰ－SP３
描述
PIN主板信步5216样机
CPUIntelAtomD525双核处理器,1.8GHz内存金士顿2GDDR3
硬盘希捷（ST95003wAS）样品
板载
电源先马蓝魅270w
1.外观检查
测试项目测试内容测试结果
对照说明书查看硬盘尺寸是否符合桌面因硬盘标准标签检查标签是否符合硬盘实际规格Pass接口检查接口是否符合STATPass重量是否符合说明书重量Pass2.功能测试
BIOS能识识别硬盘Pass硬盘正常分区格式化Pass硬盘工作模式更改（在windowXP）Pass写入写出大于500M无错误Pass3.稳定性测试
连续写入大文件12小时无错误提示，无死机。Ghost恢复系统循环12小时PassReboot100次Pass4.结构性测试与主板，内存，电源，机箱无干涉线缆与主板无干涉5温度测试
硬盘发热量40摄氏度~70摄氏度
附录一:硬盘规格
希捷（ST9500325AS）测试
PassPass
《硬盘测试报告(1).doc》
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