CD-R光盘产品常规检测参数与说明
CD-R光盘产品常规检测参数与说明
清华大学光盘国家工程研究中心主任徐端颐教授指出，目前市面销售的CD-R光盘的分级标准是生产厂商各自制定的，即所谓的A、B、C级，均是厂家各自的品质标准。在裸盘下生产线的时候，通过外观检验、几何检验、刻录兼容性和刻录品质检验等工序，就分出A、B、C级盘片，一般厂商的A级盘片用来给重大的OEM客户和自有品牌交货，B、C级盘片用来出给小OEM，或者做白标盘处理。所以，选择和评价CD-R盘片，不能只看其标称等级，而应看其技术指标及测试标准。
由清华大学光盘国家工程研究中心起草的《可记录光盘（CD-R）常规检测参数》，已成为中华人民共和国新闻出版行业标准（GY/T38-2001），并于2002年1月1日实施。该标准规定了可记录光盘（CD-R）常规检测参数，适用于可记录光盘（CD-R）产品的质量检测。该标准目前制定的技术指标及测试标准最高的为A+级盘片，而没有所谓的A++或A+++级。
第一部分：光盘基本信息与检测标准•盘片信息
光盘的信息区含有预刻槽，预刻槽含有恒线速度CLV时钟信息、时间编码和其他相关信息。部分记录盘的信息区分为以下部分：功率校准区PCA、程序记忆区PMA、导入区LIA、程序区LOA和未记录区URA。•常规检测参数
常规检测参数分为两大类。一类是CD-R机械尺寸检测参数（表一）；另一类是CD-R光电参数检测参数。本文主要介绍光电参数检测参数。
CD-R光电检测参数分为以下三类•全部区域参数
偏心ECC、径向躁声RN、垂直偏差DEV、盘片双折射率BIR、盘片不平衡度Ud,；•未记录区参数
归一化摆动幅度NWA、ATIP错误率ATER、ATIP突发错误长度ABERL、记录前径向对比度RCb；•记录区参数
圆偏振光测量的推挽信号PPC、串扰XT、记录后径向对比度RCb、归一化高频信号I11R、归一化高频信号I3R、对称性
《CD-R光盘产品常规检测参数与说明.doc》
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